SuperViewW系列超光滑硅晶片表面光學輪廓儀以高精度、高效率、高適配的核心優勢，為精密制造、科研檢測等領域提供一站式測量解決方案。如需獲取產品演示視頻、行業定制化方案或免費樣品測試，歡迎隨時聯系。

中圖儀器SuperViewW0.1nm級分辨率光學3D表面輪廓儀形貌重復性低至0.1nm，粗糙度RMS重復性0.005nm，臺階測量準確度僅0.3%，搭配氣浮隔振底座與0.1nm分辨率環境噪聲評價，復雜車間環境也能穩定輸出精準數據。

中圖儀器白光干涉3D表面輪廓儀廣泛應用于精密制造、電子半導體、汽車零部件、新材料、醫療器械等領域，對各種產品、部件和材料表面的粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。

中圖儀器光學表面輪廓儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。

SuperViewW光學輪廓三維形貌儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。

SuperViewW光學3D表面形貌量測輪廓儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。