CEM3000A低電壓高分辨率掃描電鏡鏡筒內加減速技術賦能敏感樣品觀測！它搭載創新“鏡筒內加減速+復合透鏡設計”核心技術，解決低電壓場景下的成像痛點，為B端用戶提供“低損+高清+穩定”的微觀檢測新方案！

CEM3000實驗室小型掃描電鏡體標配二次電子探頭+多象限背散射探頭，可選配能譜儀，實現微觀形貌與元素分析雙重功能，一站式解決多類型樣品檢測需求。

依托自有研發團隊，中圖儀器掃描電鏡廠家自主攻克復合抗振防磁、快速抽真空、高分辨率成像等核心技術，旗下CEM3000系列掃描電鏡具備優于4nm的空間分辨率、20萬倍放大倍數，支持一鍵成像、自動調節等便捷功能，適配多行業微觀檢測需求。

中圖儀器工業掃描電鏡廠家CEM3000系列電鏡搭載復合抗振技術，20萬倍高清+40秒快檢！在材料科學中解析材料表面形貌與內部結構；結合桌面式小巧體積設計，可放置于普通實驗臺，對場地無特殊要求。

CEM3000系列桌面型sem掃描電鏡體積小巧，可放置于普通實驗臺，對場地無特殊要求。4nm高清+40秒快檢，搭配鏡筒內電子加減速和復合透鏡設計，低至1KV也能對電子束敏感樣品直接觀察。

CEM3000抗振防磁掃描電子顯微鏡確保高倍數下微觀特征（如60nm銀線、錫球焊接缺陷）清晰可辨，數據誤差率顯著降低，避免因成像模糊、數據失真導致的研發誤判、質檢漏檢等問題。從實驗室到生產線、從車間現場到狹小空間（手套箱/車廂），無論環境振動、磁場干擾如何變化，均能穩定輸出優于4nm（SE模式）的高清成像。