低真空模式掃描電鏡

中圖儀器CEM3000低真空模式掃描電鏡用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析。在工業領域展現出廣泛的應用價值，標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統，能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求，實現微觀的形貌和元素分析等。

此外，該系列電鏡也可通過加裝各類探頭和附件，滿足用戶的拓展性需求，這使其在材料科學、生命科學、納米技術、能源等多個領域得到了廣泛應用。

產品功能

1.高分辨率，滿足用戶觀測需求；

2.快速抽放氣，縮短等待時間；

3.高易用性

可快速成像，一鍵成片；

4.多種成像參數

滿足專業用戶的調節需求；

5.高抗振防磁性能

強抗干擾能力；

6.可選配低真空模式，保證用戶能夠根據需要設定電鏡樣品倉內真空度，進而對不同類型的樣品進行觀測。

7.大樣品倉

SEM3000A在保證較小外形尺寸同時，具有比肩立式電鏡的大倉室，從而容納更大尺寸樣品；

8.多探測器

可實現四分窗同時掃描成像。

性能特色

1、緊湊外型

CEM3000低真空模式掃描電鏡整機經過深入優化，在結構方面達到了優尺寸利用率，確保其出色的性能不再受環境尺寸的制約，無論是日常的工作桌面、還是狹小空間，CEM3000系列臺式掃描電鏡總能陪伴用戶出現在有需要的地方。

2、自動調節

用戶可借助自動調節功能，無需過多人工調節，便可一鍵得到理想的拍攝圖片。

3、高分辨率

CEM3000系列電鏡具有出色的電子光學系統，優于4nm的空間分辨率，保證了高放大倍數下的清晰成像，能夠滿足納米尺度的形貌觀測需求。

4、高抗振防磁性能

該系列臺式電鏡采用特殊設計的隔振措施，能夠減小環境中振動對電鏡的干擾，并且全系列電鏡具有強抗電磁干擾性能，消除場地因素對電鏡的影響。

其中CEM3000B更是采用本公司設計的高性能復合抗振系統來消除外界振動對電鏡的影響，即使是在高放大倍數下成像，用戶也不用擔心環境振動對電鏡產生的干擾。

5、選配低真空系統

根據用戶需求，可選配低真空系統。該系統讓用戶可以任意設定電鏡工作時的倉內真空度(倉內真空度低可達100Pa)，以滿足不同類型樣品的觀測需求。

6、操縱手柄

操作手柄上集成了多個方向位移控制，自動調整及自動對焦、自動消像散等功能，可快速完成觀測位置調整及自動成像。

7、豐富的定制功能

根據特定行業的需求，定制了自動化的顆粒度統計、孔隙率測量等選配功能。

可根據用戶需求提供全自動軟件定制服務。

8、高精度樣品臺

該系列臺式電鏡采用全新設計的樣品臺，各自動軸均保證了動作精度和高重復性。

9、高襯度成像系統

采集系統具有高信噪比，使用戶在快速掃描時也能獲取到充足的信號。即使針對微弱信號，CEM3000系列臺式電鏡搭載的處理算法亦可將信號從背底中進行高效剝離，確保成像質量。

機型選擇

CEM3000A（大樣品倉型）：70mm×70mm樣品倉，兼容大尺寸或多樣品批量分析。

CEM3000B（抗振型）：專為振動環境設計，抽氣更快（低真空僅40秒），成像更穩定。

應用場景

材料科學：納米材料（如60nm銀線）、高熵合金粉末、氧化鋅等微觀結構分析。

新能源：太陽能電池板缺陷檢測、涂層性能評估。

生物醫療：微流控芯片表面形貌觀測、藥物載體研究。

工業質檢：錫球顆粒焊接質量、精密器件表面粗糙度檢測。

部分技術指標

如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯系中圖儀器咨詢。