CEM3000強抗電磁干擾性能掃描電鏡憑借其簡便的操作系統，讓復雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。在工業領域展現出廣泛的應用價值，標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統，能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求，實現微觀的形貌和元素分析等。

NS系列磁吸式測針臺階儀通過2μm金剛石探針與LVDC傳感器的協同工作，結合亞埃級分辨率（5 Å）與智能化分析軟件，可精準測量臺階高度（納米至1050μm）、表面粗糙度（Ra、Rz等參數）、膜層厚度及應力分布，為材料研發、工藝優化與質量管控提供可靠數據支持。

CEM3000高襯度成像掃描電鏡系統憑借其簡便的操作系統，讓復雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。在工業領域展現出廣泛的應用價值，標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統，能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求，實現微觀的形貌和元素分析等。

中圖儀器3D白光干涉表面形貌儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。

CEM3000高精度掃描電子顯微鏡憑借其簡便的操作系統，讓復雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。在工業領域展現出廣泛的應用價值，標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統，能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求，實現微觀的形貌和元素分析等。

VT6000精密共聚焦顯微鏡所展示的圖像形態細節更清晰更微細，橫向分辨率更高。它具有直觀測量的特點，能夠有效提高工作效率，更加快捷準確地完成日常任務。借助共聚焦顯微鏡，能有效提高工作效率，實現更準確的操作。