CEM3000抗振防磁掃描電子顯微鏡確保高倍數下微觀特征（如60nm銀線、錫球焊接缺陷）清晰可辨，數據誤差率顯著降低，避免因成像模糊、數據失真導致的研發誤判、質檢漏檢等問題。從實驗室到生產線、從車間現場到狹小空間（手套箱/車廂），無論環境振動、磁場干擾如何變化，均能穩定輸出優于4nm（SE模式）的高清成像。

?SuperView W1系列中圖儀器白光干涉儀設備以0.1nm級分辨率、8μm/s掃描速度、300+種標準參數，可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

NS系列5Å重復性臺階高度儀0.01埃分辨率，5Å超高精度精準測量微觀檢測微觀輪廓。搭載線性可變差動電容傳感器（LVDC），在半導體、光伏、MEMS等精密制造與科研領域一站式解決多場景微觀參數檢測需求。

中圖儀器CEM3000系列4nm高清快檢掃描電鏡“空間適配+高效精準+定制適配”的高效檢測硬核基礎，結合“全周期、快響應、強專業”的售后服務體系，為采購、使用、維護提供全周期保障。

中圖儀器VT6000系列微納材料共聚焦顯微鏡在半導體、3C電子、航空航天等超精密加工領域，3D+2D全維測量各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等，一臺設備滿足多維度檢測需求。

中圖儀器CEM3000系列掃描電鏡優于4nm空間分辨率（SE模式），60nm銀線等微尺度特征清晰呈現，最高20萬倍放大倍數，覆蓋納米級觀測需求。用戶可在CEM3000系列60nm銀線微尺度觀測掃描電鏡上搭配不同的探頭，同時接收多種信號，對樣品進行分析。